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Hanwa ESD HED-G5000 全自動芯片ESD測試設備 近年來，自動駕駛技術逐漸成為Tier1汽車電子智能系統的超前優良技術，解決自動駕駛技術的關鍵在于提升自動駕駛芯片的可靠性，保障汽車運行中的安全。目前國內尚未有關于汽車芯片可靠性的標準，而是基于國際AEC-Q100系列標準而進行汽車芯片可靠性測試，其中一環節就是要對汽車芯片進行CDM和HBM的靜電相關測試。

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tlp測試設備,TLP靜電測試儀是對保護電路的工作特性進行模擬測試的設備。對集成電路里保護電路的工作參數的收集與分析有很大幫助。也可進行VF-TLP測試

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ESD測試設備,芯片ESD（靜電放電）測試是在半導體可靠性測試期間進行的。ESD測試對于半導體設計的開發和半導體制造的最終生產過程中的質量保證都是不可少的。HED-W5000M 晶圓ESD測試機

CDM測試儀,CDM測試設備適用于汽車芯片可靠性測試AEC標準中~靜電CDM測試設備