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晶圓 2D/3D AOI 檢驗顯微鏡進料的wafer,經過正反面目檢和顯微鏡正面micro檢查,進行檢查和分選。操作員不接觸wafer,避免了污染和損傷wafer。
憑借著多年的行業經驗及技術積累,我們可以為客戶提供半導體測試系統解決方案。YXLON X射線檢測機被設計用于為SMT,半導體和實驗室封裝應用領域提供同級別產品中優良的檢測解決方案。通過優異軟伯和硬件,歐洲進口X射線檢測系統/EVO系統有比同類更高品質且可重復的結果。 檢測類別:SMT和PTH封裝、印刷電路板、IGBT、晶圓檢測、三維集成電路、傳感器、MEMS和MOEMS,TSV。